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清潔度檢測(cè)系統(tǒng)

更新時(shí)間:2021-01-06點(diǎn)擊次數(shù):1584

1、產(chǎn)品簡(jiǎn)介:

清潔度分析儀整體設(shè)計(jì)整體制造: 生產(chǎn)了顆粒度分析即清潔度檢測(cè)需要的所有核心技術(shù)和產(chǎn)品,這些包括: 智能顯微鏡,數(shù)碼攝像頭,分析軟件,自動(dòng)掃描系統(tǒng),自動(dòng)對(duì)焦系統(tǒng),濾紙夾具,校準(zhǔn)樣品.這確保了真正的可靠,高速,以及一體化服務(wù).
整車企業(yè),液壓,潤(rùn)滑行業(yè)的密切合作,不斷改進(jìn)和研發(fā),使產(chǎn)品的性始終不斷提高。

 

應(yīng)用領(lǐng)域:

汽車零部件、液壓潤(rùn)滑、軸承、發(fā)動(dòng)機(jī)、汽輪機(jī)、航空、半導(dǎo)體、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)、通訊、精密儀表、大型工礦設(shè)備的磨損監(jiān)測(cè)等行業(yè)。

系統(tǒng)概括 流程化設(shè)計(jì),操作更直觀

1、簡(jiǎn)潔的界面,給您帶來(lái)流暢的操作體驗(yàn)

2、符合標(biāo)準(zhǔn),支持用戶自定義標(biāo)準(zhǔn)

測(cè)量參數(shù)— 卡規(guī) 直徑定義: 顆粒兩條平行外切直線間的長(zhǎng)距離。

3、背景校準(zhǔn)

由于照明光源的不均勻可能導(dǎo)致成像四周暗圈,影響整體成像質(zhì)量,背景校準(zhǔn)功能可以有效的避免這個(gè)問(wèn)題。

4、自動(dòng)拍照,圖像拼接

掃描過(guò)程自動(dòng)拍照、自動(dòng)保存,進(jìn)度實(shí)時(shí)可見;照片信息存入數(shù)據(jù)庫(kù),方便查詢。提供視場(chǎng)圖片瀏覽檢查功能。

5、統(tǒng)計(jì)、修改、多樣化結(jié)果顯示

系統(tǒng)自動(dòng)識(shí)別顆粒、自動(dòng)統(tǒng)計(jì)顆粒參數(shù)、自動(dòng)分析顆粒類別,同時(shí)支持修改顆粒。提供多種結(jié)果展示工具。

6、自動(dòng)識(shí)別金屬顆粒,非金屬顆粒,纖維

系統(tǒng)自動(dòng)識(shí)別顆粒,可以同時(shí)檢查出非金屬顆粒,金屬顆粒,纖維。對(duì)三類顆粒進(jìn)行檢查分類。 支持設(shè)置各種顆粒的合格區(qū)間。支持自定義三種顆粒的區(qū)分設(shè)置。

1)金屬在明場(chǎng)模式下表面會(huì)發(fā)光,在偏光模式顏色會(huì)呈現(xiàn)黑色。

2)非金屬顆粒在明場(chǎng)和偏光照明兩種模式下的圖像,灰度幾乎沒(méi)有變化。

3)軟件通過(guò)兩種模式下的圖像比對(duì)來(lái)區(qū)分金屬與非金屬。

4)纖維是依據(jù)顆粒長(zhǎng)寬比及長(zhǎng)度來(lái)定義的,可以是金屬,也可以是非金屬。

7、分析結(jié)果自動(dòng)保存,可隨時(shí)調(diào)用

分析結(jié)果被自動(dòng)保存在系統(tǒng)數(shù)據(jù)中,當(dāng)遇到質(zhì)量問(wèn)題需要追溯時(shí),可隨時(shí)調(diào)用出來(lái),支持變更顆粒標(biāo)準(zhǔn)重新分析。

8、清潔度報(bào)告

支持模板化報(bào)告生成模式,包含統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)、評(píng)級(jí)、濾片全貌圖、顆粒照片等信息。

●中英文混排,表中包含全部/ 金屬顆粒分類數(shù)據(jù)

 

11、其他清潔度方案

12、設(shè)備選型

針對(duì)小檢測(cè)顆粒2um及油品清潔度檢測(cè)項(xiàng)目,我們同樣提供的解決方案。

13、清潔度系統(tǒng)升級(jí):

公司是否已有一臺(tái)顯微鏡在用于材料分析或顯微觀察?請(qǐng)立即聯(lián)系品智創(chuàng)思的銷售人員,我們可以為您提供合理經(jīng)濟(jì)的升級(jí)方案。

                                                                      空白值

部件的清潔度檢測(cè)過(guò)程有可能將外部顆粒帶入分析結(jié)果,如果該顆粒比例太高,會(huì)導(dǎo)致一定量的誤判,從而導(dǎo)致檢測(cè)失敗,因此在實(shí)驗(yàn)前必須確認(rèn)空白值是否滿足該次實(shí)驗(yàn)要求。

外部顆粒來(lái)源于以下幾個(gè)方面:

●清洗液和沖洗溶液

●萃取設(shè)備自身

●分析和清洗過(guò)程中的操作

●實(shí)驗(yàn)環(huán)境和人員

●與實(shí)驗(yàn)樣品有接觸的所有物體

   衰減實(shí)驗(yàn)

目的:衰減實(shí)驗(yàn)主要用來(lái)制定清潔度操作規(guī)范或當(dāng)產(chǎn)品設(shè)計(jì)變更后驗(yàn)證之前的操作規(guī)范是否依然適用。

操作步驟:

1、針對(duì)同樣的樣品或樣品組采用一致的實(shí)驗(yàn)參數(shù)進(jìn)行6次清洗,記錄每次實(shí)驗(yàn)的數(shù)據(jù)信息。

2、計(jì)算每次實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)與數(shù)據(jù)總量的比值,滿足10%原則,則清洗參數(shù)有效。

3、如6次實(shí)驗(yàn)后依然不能達(dá)到衰減的要求,則需要調(diào)整清洗參數(shù)或清洗方法,再次進(jìn)行衰減實(shí)驗(yàn)。

示例(以重量分析為例)

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